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16 Mbit LPC Serial Flash
A Microchip Technology Company
SST49LF016C
Data Sheet
Table 24: Pin Capacitance (V DD =3.3V, T A =25 °C, f=1 Mhz, other pins open)
Parameter
C I/O1
Description
I/O Pin Capacitance
Test Condition
V I/O =0V
Maximum
12 pF
C IN
1
Input Capacitance
V IN =0V
12 pF
L PIN2
Pin Inductance
20 nH
T24.0 25029
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this
parameter.
2. Refer to PCI spec.
Table 25: Reliability Characteristics
Minimum
Symbol
N END1
T DR1
I LTH1
Parameter
Endurance
Data Retention
Latch Up
Specification
10,000
100
100 + I DD
Units
Cycles
Years
mA
Test Method
JEDEC Standard A117
JEDEC Standard A103
JEDEC Standard 78
T25.0 25029
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this
parameter.
Table 26: Clock Timing Parameters (LPC Mode)
Symbol
T CYC
T HIGH
T LOW
Parameter
Cycle Time
LCLK High Time
LCLK Low Time
33 MHz
Min
Max
30
11
11
66 MHz
Min
Max
15
6.5
6.5
Units
ns
ns
ns
-
-
LCLK Slew Rate (peak-to-peak)
RST# or INIT# Slew Rate
1
50
4
1
50
4
V/ns
mV/ns
T26.0 25029
T CYC
T HIGH
0.5 V DD
0.4 V DD
0.6 V DD
T LOW
0.4 V DD p-to-p
(minimum)
0.3 V DD
0.2 V DD
1237 F09.0
Figure 10: LCLK Waveform (LPC Mode)
?2011 Silicon Storage Technology, Inc.
32
DS25029A
06/11
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